1、探傷在金屬等均質(zhì)介質(zhì)的傳播過(guò)程中，不同介質(zhì)的界面會(huì)發(fā)生反射，可用于內(nèi)部缺陷的檢測(cè)。 它可以檢查任何焊件材料，任何部位的任何缺陷，可以更靈敏地發(fā)現(xiàn)缺陷位置，但很難確定缺陷的性質(zhì)、形狀和大小。 因此，探傷通常與射線檢測(cè)結(jié)合使用。  2、X射線檢測(cè) X射線檢測(cè)是一種利用射線可穿透材料的特性和材料中的衰減來(lái)發(fā)現(xiàn)缺陷的一種檢測(cè)方法。 根據(jù)探傷所用射線的不同，可分為X射線探傷和γ射線探傷。 由于顯示缺陷的方法不同，每種射線檢測(cè)分為電離法、熒光屏觀察法、照相法和工業(yè)電視法。 射線探傷主要用于檢查焊縫中的裂紋、未焊透、氣孔、夾渣等缺陷。  3、滲透探傷滲透探傷是利用某些液體的滲透性和其他物理特性來(lái)發(fā)現(xiàn)和顯示缺陷，包括著色探傷和熒光探傷，可用于檢查鐵磁性和非鐵磁性材料表面的缺陷。  4、磁探 磁探只能發(fā)現(xiàn)磁性金屬表面和近表面的缺陷，只能對(duì)缺陷進(jìn)行定量分析，只能憑經(jīng)驗(yàn)估計(jì)缺陷的性質(zhì)和深度。 磁探是利用磁場(chǎng)產(chǎn)生的漏磁通對(duì)鐵磁性金屬零件進(jìn)行磁化來(lái)發(fā)現(xiàn)缺陷。 根據(jù)漏磁測(cè)量方法的不同，可分為磁粉法、磁感應(yīng)法和磁記錄法，其中磁粉法應(yīng)用**為廣泛。